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增城数字ic设计工作内容择优推荐

发布时间:2020-06-21 23:09:06        







数字IC验证综合知识

接口的强大功能:一是简化模块之间的连接;二是实现类和模块之间的通信。可以说接口的功能固然强大,但是问题又来了:

首先,因为事务交易处理器中的方法采用了层次化应用的方式去访问对应端口的信号,所以我们只能为两个相同功能的接口分别编写两个几乎一样的事务交易处理器,为什么呢?似乎这些与狭义的数字电路设计不相关,但这恰恰公司降低成本的秘诀。因为采用的是层次化的应用,假如设计中的某个引脚名字需要修改,我们只能修改驱动这个端口的方法!这样还是有点繁琐,那么sv中有了虚接口的概念,事情就会变得更加简单了!

到底是如何操作的呢?

虚接口和对应的通用方法可以把设计和验证平台分隔开来,保证其不受设计改动的影响。FPGA是可编程门阵列,就是提前生产好的ASIC芯片,可以改配置文件,来实现不同的功能。当我们对一个设计的引脚名字进行改动的时候,我们无须改动驱动这个接口的方法,而是只需要在例化该事务交易处理器的时候,给虚接口绑定对应连接的实体接口即可。以此来实现事务交易处理器的更大重用性。



虚接口的定义:

virtual interface_type variable;

虚接口可以定义为类的一个成员,可以通过构造函数的参数或者过程进行初始化。

虚接口应用的具体步骤:

到此,我们就可以在事务交易处理器中,编写针对该接口的通用方法(如request和wait_for_bus),只要针对虚接口进行操作就可以,而该虚接口不针对特定的具体器件,只有在事务交易处理器的对象例化创建时,根据具体传递给他参数确定。





数字IC测试

随着Internet的普及,远程教育在我国已有了很大的发展,尤其是CAI课件以及一些教学交互的软件的研究已有相当的程度。这样就可以知道各大厂所面临到的困境,以及达成这个目标究竟是多么艰巨。然而远程实验的发展却大大落后,这是由于不同领域实验的远程化需要研究不同的实现方法。 在本文中首先阐述了一种高校电子信息类***数字逻辑以及现代可编程器件(FPGA/CPLD)等课程的远程实验系统,在这个系统中使用远程测试(数字IC测试)来实现实实在在的硬件实验,使得这个系统不同于纯软件的。




接着叙述了该实验系统中虚拟实验环境软件和实验服务提供端的数字IC测试系统的设计。因为IC是由各厂自行设计,所以IC设计十分仰赖工程师的技术,工程师的素质影响着一间企业的价值。虚拟实验环境软件提供一个可灵活配置、形象直观的实验界面,这个界面为使用者提供了实验的***认识。数字IC测试系统完成实际实验:提供激励并测试响应。本文叙述的数字IC测试系统可对多达96通道的可编程器件进行实验,另外它还作为面向维修的测试仪器,具有在线测试、连线测试、V-I测试、施加上拉电阻、调节门槛比较电平等功能。


ESD保护电路的数字逻辑芯片检测

数字电子技术是普通高校电子类相关***的必修课程,主要包含组合逻辑电路和时序逻辑电路两部分内容及其应用。DFTCompiler同时支持RTL级、门级的扫描测试设计规则的检查,以及给予约束的扫描链插入和优化,同时进行失效覆盖的分析。数字电子技术又是一门实践性很强的课程,需要学生动手做实验来加深对数字逻辑芯片工作原理的理解。数字电路实验离不开数字逻辑芯片,很多高校每年都会采购一批数字逻辑芯片,芯片复用率很低,造成了数字逻辑芯片的严重浪费。



数字电路实验会使用到许多不同类型的数字逻辑芯片。由于储存方法不当、实验平台不完善、学生不规范操作等原因,数字逻辑芯片经常发生损坏。罪魁祸首:SiOHSiOHMOSFET原理是一个门极(Gate)靠静电势控制底下的导电沟道深度,电势高形成深沟道电流就大,电势低沟道消失就不导电了。由于其故障类型多样、检测过程繁琐,因此实验室管理人员难以及时排查故障芯片。本文基于芯片ESD保护原理、故障字典法研究设计了一种数字逻辑芯片自动化检测系统。该系统可检测数字逻辑芯片是否有短路、断路和逻辑功能错误等故障,并可确定具体的故障引脚位置,通过LCD液晶屏或上位机将检测结果展示给用户。经过实际的试验和数据分析可以得出:该检测系统可以较好地检测数字逻辑芯片故障,单枚芯片检测时间大约为3秒,且检测准确率高达99.4%、运行功耗低至0.44W。非常适合在开设数字电子技术课程的高校中推广应用,同时也可用于芯片制造公司的成品检测。


数字IC测试系统的发展

随着数字集成电路性能的不断提高,数字集成电路测试系统也相应得到了迅速发展。质量(Quality)就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格(SPEC)的要求,是否符合各项性能指标的问题。主要表现在以下几方面: 测试通道数增加数字电路集成度的不断提高和专用集成电路的出现,器件的引脚数不断增加,使得数字测试系统的测试通道数相应不断增加。由测试中、小规模集成电路的24通道测试系统,测试大规模集成电路的48通道、64通道测试系统发展到测试超大规模集成电路的128通道、256通道甚至更多通道数的测试系统。




深圳瑞泰威科技有限公司是国内IC电子元器件的代理销售企业,***从事各类驱动IC、存储IC、传感器IC、触摸IC销售,品类齐全,具备上百个型号。作为改善方式,就是导入FinFET(Tri-Gate)这个概念,如右上图。与国内外的东芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶准等均稳定合作,保证产品的品质和稳定供货。自公司成立以来,飞速发展,产品已涵盖了工控类IC、光通信类IC、无线通信IC、消费类IC等行业。


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